涂层/膜厚测量系统
型号: MTF-Y430-Y/Y430H-Y
适用于各种涂镀层或者多层复合膜的厚度测量, 对膜层的性质和形态没有限制
测量准确度高,依据充分,判别直观,可在其它测厚法对结果有争议时,进行校验和仲裁
可分析涂镀层的品质或找出缺陷(如气孔、裂纹、夹杂物、剥皮等)产生的原因
精度高, 重复性好, 一般用于厚度控制严格
| 型号 | 分辨率 | 放大倍率 | 像素 |
|---|---|---|---|
| MTF-Y430-Y(普通型) | 3072×2048 | 光学: 50X~500X(搭配100X选配物镜可达1000X) | 6.3M |
| MTF-Y430H-Y(高清型) | 3072×2048 | 光学: 50X~500X(搭配100X选配物镜可达1000X) | 6.3M |
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