超声扫描显微镜
型号: UFD-CY系列
适用于金属和复合材料零部件内部的夹杂, 裂纹, 气孔, 分层等缺陷的自动扫描
多维成像, 全面掌控, 支持A, B, C, D, X等多种成像模式, 精准呈现产品细节, 数据标记与波形对比, 实现缺陷的深度追踪与精准分析
基于波的传播时间和衰减程度, 快速呈现检测对象的形态及缺陷分布
可自定义托盘数量和尺寸，并提供图像自动分割，空盘识别跳过等功能
多种测量, 精准评估, 支持多达9种人工测量方式, 包括点到点, 平行宽度, 多线段等, 满足不同测量需求
视觉智能, 算法导入, 支持基于机器视觉的图像评判算法导入, 实现自动化缺陷识别与评定
智能计算, 人工框定缺陷区域后, 自动计算缺陷尺寸, 面积与占比, 简化分析流程
图像导出, 直观呈现, A, B, C, D 扫支持导出 PNG, BMP, Tiff 等格式图像, 清晰展示检测结果
| 型号 | 频率 | 采样频率 | 增益范围 | 最小进步 | 最大重复频率 | 工位数 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| UFD-CY310C | 1~150MHz | 2GS/s | -32~80dB | 0.01dB | 65kHz | 单工位 |
| UFD-CY320C | 5~300MHz | 2GS/s | -32~80dB | 0.01dB | 65kHz | 单工位 |
| UFD-CY330C | 5~500MHz | 2GS/s | -32~80dB | 0.01dB | 65kHz | 单工位 |
| UFD-CY340C | 1~150MHz | 1GS/s/CH | -32~80dB | 0.01dB | 65kHz | 双工位 |
| UFD-CY350C | 5~300MHz | 1GS/s/CH | -32~80dB | 0.01dB | 65kHz | 双工位 |
| UFD-CY360C | 5~500MHz | 1GS/s/CH | -32~80dB | 0.01dB | 65kHz | 双工位 |
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